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전반사 X 형광 분광기

협상 가능업데이트07/26
모델
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생산자
제품 카테고리
원산지 Place of Origin

개요

제품 이름: 전체 반사 X 형광 분광기 제품 모델: TX 2000 업데이트 시간: 2023-06-30 브랜드: GNR 생산 주소: 이탈리아 TXRF (전체 반사 X 형광/전체 반사 X 선) 분석 원리는 X 형광 분광법을 기반으로 하지만 X 선 분광과 대조적으로, 기존 분광은 원급 X 빔으로 45 각으로 샘플을 폭격하고 TXRF는 호도의 임계 입사 (0 각도) 에 가깝다.이러한 접선 방향에 가까운 입사각을 사용하기 때문에, 원급 X-빔은 거의 전부 반사될 수 있으며, 샘플 표면에 비친 후, 샘플 캐리어의 빔 흡수와 산란의 발생을 크게 피할 수 있으며, 동시에 캐리어의 배경과 소음을 줄일 수 있으며, 샘플 사용량도 줄일 수 있다.

제품 정보

  전반사 X 형광 분광기 응용 범위
TXRF (전반사 X 형광) 분석 원리는 X 형광 스펙트럼법에 기초하지만, X 선 스펙트럼과 대조적으로, 전통적인 스펙트럼은 원급 X 빔으로 45 ° 각으로 샘플을 폭격하고, TXRF는 밀리 아크의 임계각 (영도 각에 가까운) 으로 입사한다.이러한 접선 방향에 가까운 입사각을 사용하기 때문에, 원급 X-빔은 거의 전부 반사될 수 있으며, 샘플 표면에 비친 후, 샘플 캐리어의 빔 흡수와 산란의 발생을 크게 피할 수 있으며, 동시에 캐리어의 배경과 소음을 줄일 수 있으며, 샘플 사용량도 줄일 수 있다.
TX2000은 전체 반사와 전통적인 에너지 색산을 같은 기기에 통합하여 광학 인코더의 스텝 모터, 각도 측정, 소프트웨어 제어 Mo/W 표적을 자유롭게 전환할 수 있으며, 고해상도, 저배경의 Pal 스티커 온도 제어 실리콘 드리프트 검출기를 사용한다.
  적용 범위
TX2000은 나트륨 Na부터 플루토늄 Pu까지 모든 원소 함량을 측정할 수 있으며, 흔적 또는 초흔량 원소 분석(ppt 또는 pg)을 할 수 있으며, 환경 분석(물, 먼지, 퇴적물, 대기 부유물), 제약 분석(생체액 및 조직 시료의 유해 원소), 법의학(미소 증거 분석), 화학 순도 분석(산, 알칼리, 소금, 용제, 분말, 석유, 분말, 연료, 연료, 휘발성 물질, 페인트), 연료 분말, 연료 (휘발성 분석, 유) 및 연료 (휘발성 재료)
  주요 특징
1. 단일 내표 교정은 정량 분석을 효과적으로 간소화하고 기체의 영향이 없다;
2. 모든 기체의 샘플에 대해 단독으로 교정과 정량분석을 진행할 수 있다;
3. 다원소를 실시간으로 분석하여 흔적과 초흔적 분석을 할 수 있다;
4. 샘플의 유형과 서로 다른 응용 수요의 영향을 받지 않는다;
5. *의 액체 또는 고체 샘플의 미량 분석은 분석에 필요한 샘플의 양이 적다.
6. 우수한 검출 제한 수준, 원소 분석 범위는 나트륨에서 플루토늄으로 커버한다;
7. 동적 선형 범위;
8. 어떠한 화학 전처리도 필요 없고 기억효과가 없다;
9. 비파괴적 분석으로 운영 원가가 저렴하다.
분광 시스템에 따라 XRF 분광기는 주로 파장 분산형 (WDXRF) 과 에너지 분산형 (EDXRF) 두 가지가 있는데, 양자 구조는 다음 그림과 같다.
X형분광기 범위 내에서 파장 크로마토그래프 (WXRF) 방법과 비교할 때, TXRF 분석 기술은 샘플의 양이 매우 적기 때문에, 샘플을 만드는 번거로운 과정도 필요하지 않으며, 본래의 증강이나 약화 효과도 없기 때문에, 매번 다른 기체에 대해 다른 기체 교정 곡선을 만들 필요가 없다.또 내표법 사용으로 환경온도 등에 대한 요구가 낮다.따라서 간편성, 경제성, 적은 샘플 사용 등에서 WXRF 방법보다 월등히 우월하다.
TXRF 기술은 산소에서 우라늄에 이르는 모든 원소를 분석할 수 있으며, 원자 흡수 분광기의 이타스와 FAAS 방법으로는 어려운 30가지 가까운 원소를 한 번에 동시에 분석할 수 있다.질량분석기의 ICP-MS와 GDMS 및 중성자활성화분석(NAA) 등의 방법과 비교할 때 TXRF 분석 방법은 빠르고 간편하며 경제적이며 다원소 동시 분석, 샘플 사용량이 적고 검출 제한이 낮으며 정량성이 좋은 등 방면에서 종합적인 우세를 가지고 있다.