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ZEISS Xradia 컨텍스트 microCT

협상 가능업데이트01/08
모델
제조업체의 성격
생산자
제품 카테고리
원산지 Place of Origin
개요
체이스 XradiaContext는 파괴적이지 않은 3DX선 마이크로컴퓨터 단층 스캐닝 시스템인 큰 시야이다.강력한 플랫폼과 유연한 소프트웨어 제어 소스/탐지기 포지셔닝을 통해 전체 3D 환경에서 대형, 중형 (25kg) 및 고샘플과 고해상도와 디테일을 갖춘 작은 샘플을 영상화할 수 있습니다.완전한 전자 부품, 대형 원자재 샘플 또는 생물 샘플의 3D 데이터를 얻습니다.비파괴적 장애 분석을 수행하여 샘플이나 가공소재 표식을 절단하거나 재료의 성능을 계량화하여 공극률, 균열, 불순물과 같은 이질성을 정의하지 않고도 내부 결함을 식별합니다.
제품 정보
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